223768-000 STD-LID-CLAMSHELL Smiths Interconnect couvercle de test PEEK 12mm

Optimisation industrielle avec le couvercle de test standard

Le composant 223768-000 STD-LID-CLAMSHELL développé par Smiths Interconnect représente une avancée majeure pour les laboratoires de caractérisation et les lignes de production de semi-conducteurs. Conçu spécifiquement sous une architecture de type clapet, ce couvercle assure une pression homogène indispensable lors des phases de tests thermiques et électriques.

Une structure robuste pour des cycles de tests intensifs

Grâce à sa fabrication en polymère PEEK haute performance, ce modèle surmonte les contraintes mécaniques répétées. Dans les environnements exigeants où chaque seconde compte, son mécanisme à charnière fluide permet un verrouillage instantané. Vous réduisez ainsi le temps de manipulation entre chaque puce électronique tout en sécurisant le contact électrique global.

• Verrouillage Clamshell : Alignement millimétrique automatique pour éviter les erreurs de positionnement des puces.
• Matériau PEEK stabilisé : Résistance accrue face aux variations de température extrêmes durant les stress-tests.
• Format compact de 12mm : Intégration parfaite sur les bancs d'essai de laboratoire à haute densité.

Spécifications techniques du boîtier